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1）主要技术参数：
²中心波长精度：优于±1nm；
²峰值波长精度：优于±1nm；
²光谱带宽测量精度：优于±0.5nm；
²相对光谱响应度测量精度：优于±2%；
²非均匀性标定误差：优于±1%；
²像素不均匀性测量精度：1%；
2）应用领域：
²线/面阵/TDI CCD以及CMOS等阵列光电探测器的光谱/辐射响应性能测试和标定。
3）成功应用案例：
²中科院新疆某研究所
²航天某院某研究所
²西北某大学
4）产品实物图片：
↑↑ 航天某院某所敏感器大面阵CCD关键参数测量系统实物图片
↑↑ 中科院新疆某研究所CCD光电参数测试设备实物图片
↑↑ 红外探测器光谱响应测试系统原理/结构图
↑↑ 红外探测器光谱响应测试系统实物图片
